Wu X., Xu D., Liu L.F., Li Y.J., Luo Q., Xiao G.N.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, PLD process, buffer layers, microstructure, critical caracteristics, fabrication, microstructure, current-voltage characteristics
J Physics: Conference Series, 2014, v.507, N 2, p.22046
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.